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AE1/RD1辐射率仪发射率通过两个步骤获取

更新时间:2016-11-26  |  点击率:1164
AE1/RD1辐射率仪是专门针对测量物体的辐射率设计的,具有如下优点:
(1)重复性:±0.01
(2)操作简单:探测器采用电加热设计,无须加热样品,也不需要测量温度。
(3)快速测量:预热约30分钟,每1.5分钟测量一次发射率。
AE1/RD1辐射率仪65℃材料的总半球发射率,检测器仅对辐射热传输响应,并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器,RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致,当AE1测量待测样品上时,RD1就能直接读出发射率。
AE1/RD1辐射率仪测量样品zui小直径为2.25英寸(5.7cm)。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头能使测量样品zui小直径为1.0英寸(2.54cm),可以为圆柱形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定制探头。对小直径圆柱形面样品测量,可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头,请来电垂询价格!
AE1/RD1辐射率仪发射率通过两个步骤获取:
(1)把辐射计放在高发射率标准体上,设定RD1来表示发射率;
(2)把辐射计放在待测样品上并直接读出RD1上的发射率。