欢迎来到上海韵鼎国际贸易有限公司网站!
咨询热线

13801777130

当前位置:首页  >  技术文章  >  ‌干涉膜厚仪‌主要用于测量薄膜的厚度

‌干涉膜厚仪‌主要用于测量薄膜的厚度

更新时间:2024-09-02  |  点击率:494
  ‌干涉膜厚仪‌主要用于测量薄膜的厚度,特别是聚合物膜和镀膜的厚度。这种仪器利用光学干涉法来测量膜厚,这是一种非破坏性的测量技术,能够在不损伤样品的情况下准确测定薄膜的厚度。光学干涉法利用光波的干涉原理,当光束照射到薄膜上时,部分光波会在膜的表面反射,部分则会穿过膜层并在底面反射回来,这两束光波相遇时会产生干涉现象。通过分析干涉图案,可以得到薄膜的准确厚度。干涉膜厚仪适用于多种应用场景,包括但不限于测量光学镀膜、手机触摸屏ITO等镀膜厚度、PET柔性涂布的胶厚等厚度、LED镀膜厚度、建筑玻璃镀膜厚度等。这些仪器在现代材料科学、电子、光学和包装等多个领域中扮演着重要角色,对于确保产品质量和性能很重要‌。
 
  工作原理
 
  干涉膜厚仪的工作原理主要基于光学干涉现象。当一束单色光照射在薄膜表面时,部分光线被反射,部分光线则穿透薄膜并在其底部或界面处再次反射。这些反射光线之间会发生干涉,形成明暗相间的干涉条纹或干涉环。干涉环的数量和形状与薄膜的厚度密切相关,通过测量这些干涉环的特性,可以计算出薄膜的厚度。
 
  特点
 
  1.非接触式测量:干涉膜厚仪采用光学方法无需直接接触被测物体,避免了测量过程中对样品的损伤,同时也提高了测量的准确性。
 
  2.高精度:由于光学干涉现象对微小变化很敏感,干涉膜厚仪能够实现高精度的薄膜厚度测量,满足各种精密制造和科学研究的需求。
 
  3.高灵敏度:能够检测到很微小的薄膜厚度变化,对于超薄膜的测量很适用。
 
  4.广泛应用:适用于多种材料的薄膜厚度测量,包括半导体、光学元件、涂层、液晶显示器等。